粒度分析仪在陶瓷制造中的应用 分析仪工作原理

对陶瓷制造来讲，原料是基础，成形是条件，烧成是关键。各种陶瓷原料由于成因不同、地质条件不同，导致其化学成分、矿物组成、工艺性容易出现波动，从而影响产品的质量，因而原料的合理选择和科学分析对陶瓷生产来说至关重要。陶瓷粉体的检测在许多方面取决于初始粉体的功用，其物理化学性质将抉择陶瓷材料结束的显微结构和格外功用。　粒度分布是粉体特有的一种性质，也是决定粉体行为与属性的重要物理性质。因此，在处理粉体时必须进行粒度分布的分析。常用的粒度分析仪有激光粒度分析仪、超声粒度分析仪、消光法光学沉积仪及X射线沉积仪等，其中激光粒度分析仪测量方便快捷、重现性高，能很好的测出样品的粒度分布曲线和集中度，越是球状颗粒，测量的越，因而广泛适用于材料、化工、制药、精细陶瓷、造纸、化妆品、冶金等以颗粒物作为生产原料的行业，以及中间体的实验室分析和工业生产中质量控制等诸多领域。 粉体质量是制备高功用陶瓷材料的基础，组成粉体的固体颗粒其粒径大小对粉体系统的性质有很大的影响。当前测定颗粒粒度的方法和装置很多，但由于其对粒径测定的试验方法各不相同，因此对同一种物料用不同的方法测试，所得的结果可能也会不同，通常对陶瓷原料的粒度进行科学检验更多的是采用激光粒度分析仪。激光粒度分析仪是利用颗粒对光的散射(衍射)现象测量颗粒大小的，即光在行进过程中遇到颗粒(障碍物)时，会有一部分偏离原来的传播方向，颗粒尺寸越小，偏离量越大；颗粒尺寸越大，偏离量越小。　陶瓷材料的制备通常要经过3个技能进程材料制备、坯体成形和烧成技能，粒度及分布状况与材料的加工时间、坯体的致密度大小、烧成温度的凹凸一级有关。干压成形的粉料和注浆成型浆料都有颗粒存在，陶瓷色釉中也存在粉状颗粒，所谓陶瓷粉体是许多固体粒子的集结系统。材料的颗粒粒度配比对产品的强度和技能功用有较大的影响，格外是在其烧结时发作的改动，激光粒度分析仪可根据该值判定其技能特征和制品功用，终选用细磨粉体经不相同方法成型制品。　在陶瓷原料方面，随着纳米技术的应用日益广泛，近百年来又出现了许多新的陶瓷品种。它们不再使用或很少使用粘土、长石、石英等传统原料，而是使用其他特殊原料，甚至扩大到非硅酸盐、非氧化物的范围，并且出现了许多新的工艺。原料性能的大幅度波动，给工艺控制和质量管理带来了很大的困难。对企业而言，除了可以利用料仓堆料流程对企业自身原料进行标准化处理外，更多着力点或许在于陶瓷原料的产品分析、检测标定，对原料进行入厂检验等方面，同时根据陶瓷原料的波动，调整配方、试烧配方、确定配方。严格的监管规则及良好的生产规范将利于陶瓷制造行业的良性发展。

合金分析仪是一种XRF光谱分析技术，可用于确认物质里的特定元素，同时将其量化。它可以根据X射线的发射波长（λ）及能量（E）确定具体元素，而通过测量相应射线的密度来确定此元素的量。XRF度普术就能测定物质的元素构成。每一个原子都有自己固定数量的电子（负电微粒）运行在核子周围的轨道上。而且其电子的数量等同于核子中的质子（正电微粒）数量。从元素周期表中的原子数可以得知质子的数目。每一个原子数都对应固定的元素名称。能量色散X萤光与波长色散X萤光光谱分析技术特别研究与应用了*里层三个电子轨道即K，L，M上的活动情况，其中K轨道*为接近核子，每个电子轨道则对应某元素一个个特定的能量层。在XRF分析法中，从X光发射管里放射出来的高能初级射线光子会撞击样本元素。这些初级光子含有足够的能量可以将*里层即K层或L层的电子撞击脱轨。这时，原子变成了不稳定的离子。由于电子本能会寻求稳定，外层L层或M层的电子会进入弥补内层的空间。在这些电子从外层进入内层的过程中，它们会释放出能量，称之为二次X射线光子。而整个过程则称为萤光辐射。每种元素的二次射线都各有特征。而X射线光子萤光辐射产生的能量是由电子转换过程中内层和外层之间的能量差决定的。特定元素在一定时间内所放射出来的X射线的数量或者密度，能够用来衡量这种元素的数量。典型的XRF能量分布光谱显示了不同能量时光子密度的分布情况。

　　【仪器网 维修保养】全自动电化学发光仪是临床诊断的常用仪器，平时需要注意维护与保养，以减少故障，延长仪器使用寿命。　　1.LFC液路清洗　　sipper针内的污染可能会降低样本检测准确度和精密度或堵塞测量池通道因此需要对LFC液路进行清洗。　　步骤打开针保护盖，从试剂仓中的瓶组1上取出procell瓶，取Sysclean试剂9 mL，灌满适配器的“USER”室(较小的室)，将被灌满Sysclean的适配器小心插入试剂仓内瓶组1的“pro—cell”位置，标记“USER”的边缘朝着分析仪后部，清空废液桶，确认其他3个“procell”和“Cleancell”瓶液量充足，且瓶盖打开，关闭针保护盖，在“综合功能”中的“维护”界面打开“LFC液路清洗”窗口，选择循环次数，按“开始”键，大约17 min后结束，取出适配器，用蒸馏水彻底冲洗干净，将“procell”瓶放回瓶组1　　2.清洗sipper针　　sipper针使用容积式的取样方式将经过孵育的反应混合液吸取至测量池，针上的污物会导致污染和液体残留，影响结果。sipper针应每日清洗。　　步骤关闭分析仪，将sipper针移至容易操作区域，用7O 异丙醇浸泡的纱布块擦拭针表面，再用蒸馏水擦拭，期间不能弯曲探针，不能碰触探针上部。　　3.更换注射器管道　　注射器长期使用有可能会导致管道液体渗漏和微堵，影响吸液量的准确性和分析仪正确清洗测量池的能力。　　步骤选择“综合功能”中的“维护”，打开“更换测量池”窗口，选择“开始”，管道内液体即被清除，关闭操作开关电源；取下配件上的管道，移走系统水容器，使用纸巾覆盖吸样管下部区域，防止渗漏和可能的污染，小心取下金属板上的配件管道，再从注射器上取下管道，将新管道插入注射口，确认管道为180 mm，旋紧管道末端，避免管道卷曲；接通分析仪，在“综合功能”中的“维护”界面，选定“sipper针冲洗”，输入冲洗10次，选择“开始”，系统排除sipper中的空气后进行sipper灌注，同时检查配件处和管道上有无渗漏；在“维护”项目列表中选择“测量池准备”窗口，按“开始”，系统开始使用procell清洗测量池。　　4.清洗磁珠搅拌棒　　磁珠搅拌棒主要用于混合磁珠，并保证悬浮液的均匀。应定期检查磁珠搅拌棒，除去可见的污物，如搅拌棒臂上或搅拌棒上的红色斑点。棒上的污点可能引起故障，影响结果。　　步骤将仪器切换至“备用”模式，将搅拌棒臂移至便于接触的位置，使用7O 异丙醇浸泡的纱布小心擦拭搅拌棒表面，再用蒸馏水浸泡的纱布重新擦拭，期间不能弯曲搅拌棒，否者有可能导致结果不准确。　　5.清洗冲洗站　　冲洗站用于冲洗样本试剂探针、磁珠搅拌棒及sipper针，冲洗站的污物可能会导致残留，引起污染。　　步骤将样本试剂针、磁珠搅拌棒和sipper针从冲洗站上移开，用带有管道的注射器抽吸冲洗站内的水，使用7o%异丙醇浸泡的棉签仔细擦洗冲洗站，再使用蒸馏水反复冲洗2次，重新灌满冲洗站内的水，启动系统复位操作。